安捷伦科技（Agilent）宣布与Hynix半导体合作生产一款为DDR和GDDR SDRAM验证而优化的高带宽、高效能长线ZIF（zero insertion force；零插力）探针头。该长线ZIF探针头可让工程师在探量距离较远的信号时，能准确地量测高速信号。安捷伦表示，这些探针头可搭配安捷伦的InfiniiMax和ZIF探量系统使用，能提供较佳的可用性和较低的焊接成本。

该探量选项可解决DDR设计的一个基本挑战：它可以让工程师探量DRAM芯片上难以触及的位置，同时保持信号的完整性。随着DDR和GDDR SDRAM组件的速度愈来愈快，以及设计边限不断地缩小，探量系统的效能显得格外重要。长线ZIF探针头，正足以克服该项探量挑战。而DDR和GDDR验证的另一项挑战是，依据JEDEC规格所需测试的信号数。长线ZIF探针头的设计，可让工程师在SDRAM组件上所要探量的多个信号间轻易地切换。