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PXI TAC 2014 -- 完美的自动化测试平台,引领业界持续创新
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2014年08月04日 星期一

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每年由美商国家仪器所主办的 PXI TAC,在 2014 年有了不一样的举办模式,除了台北场外,更巡回至新竹和台南,同时针对各区不同需求以及应用,提供相对的解决方案,细腻、客制化的举办方式,让新、旧客户对 PXI 此一平台有更进一步的认识。

今年 PXI TAC 主轴以多元应用为出发点,不论是研究单位、半导体、无线通信、车用等应用领域,皆可藉由 PXI 建构更快速、低成本且精准的系统。活动中,NI 资深副总裁 Pete Zogas 更特别指出:当今客户所面临的问题,不仅在待测物更换速度快,同时功能测项也同时增加。但系统若因此而更加复杂,整个系统效能将被影响,因此透过图形化系统设计的方式,搭配 PXI 平台,将可有效的简化系统复杂度。透过NI PXI平台,客户可以在短时间内,以简单、有效率的方式,快速建置出客制化自动化量测平台。

同时在活动会场中, NI 更分享各领域的成功方案。当中最为有名的即是日本车厂 – Subara 油电混合车使用 NI PXI 平台搭配 LabVIEW 软件,架构出 HIL (Hardware in the loop) 引擎仿真系统,在同样的测试环节上,和以往的测试系统相比,降低了 1/20 的测试时间。同时达成电子马达 ECU 检测所需的仿真速度和模型精确度。

而在半导体业界,PXI模块化仪器已经突破大家对精准度的疑虑,在今年,更成功的和机台厂商共同开发出 32 Site 的MEMS 测试机,除了功能和精度已经超越业界需求外, PXI 模块化的弹性,更能让客户在段时间内视需求增加或是替换测试功能,这样高灵活度的特性,将更能符合半导体业界的需求。

随着 PXI 技术在业界创造越来越多成功案例,NI 更将致力于开发与创新,协助客户们快速达成任务,成功克服当今所面临的工程挑战。

關鍵字: 自动化  NI 
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