安捷伦科技（Agilent）于日前宣布，推出旗下最新版组件仿真软件平台 – 集成电路特性描述与分析程序（IC-CAP），并前已经正式出货。该平台IC-CAP 2011.04将IC-CAP Wafer Professional（WaferPro）自动化量测解决方案，与IC-CAP的CMOS模型萃取软件结合在一起，将能大幅改善半导体组件的仿真流程。

最新CMOS组件的仿真必须执行大量的量测，以分析制程趋势，并找出萃取一般和极端状况（corner-case）的组件模型所需的数据。管理及分析该数据，以确保为模型的萃取和验证做岀正确的选择是一大挑战。通常仿真小组必须使用多种软件工具来转换数据格式，但此举既不精确又缺乏效率。IC-CAP WaferPro可协助用户以最有效率的方式，来搜集与管理大量的数据。现在，IC-CAP CMOS仿真软件首次能够与WaferPro完美地搭配运作。

安捷伦表示，有了IC-CAP 2011.04，用户可以在安捷伦的CMOS软件环境中定义组件和量测测试，然后自动建立可在各种测试设备上执行的WaferPro测试计划。当不同几何结构的组件经由WaferPro进行特性描述后，CMOS萃取模块就会自动读取量测数据，以便用于萃取模型。不需在量测与仿真应用软件间传输数据或转换数据格式，可大幅改进流程效率。