虛擬儀控廠商National Instruments(NI)宣佈，宗臣科技採用NI開放式的虛擬儀控架構，使用NI的 LabVIEW圖控式程式語言，搭配NI的PXI工業級量測平台及NI的RF模組儀器，成功開發RFID射頻訊號檢測(Radio Frequency Identification)測試系統，適合高速產線，亦可針對不同產業的RFID量測需求，提供客製化測試系統服務。

宗臣科技發表的RFID測試系統，最大的研發在於它具備「產線整合能力」，不但能和企業現有產線流程緊密結合；LabVIEW軟體更提供客製化進行資料庫存取，Word或Excel報表產生，遠端監控，或和其他軟體搭配之系統整合，因此，可針對不同產業的RFID量測需求，提供客製化測試系統之服務。

郭宗廷表示：「NI的PXI及LabVIEW產品在此RFID量測系統中扮演了相當重要的角色，不但提供了高彈性、高效能與合理價格，此外，NI售後服務及技術人員支援的專業及熱誠更是我們選擇NI的重要因素。」

此RFID量測系統，為一完整從物理層測到協定層，並可進行多樣化測試之量測方案；除了在研發端可提供詳細之量測資料以供產品驗測，亦可在產線端進行整合式產品測試。宗臣科技使用NI的PXI-8196 2.0GHz Pentium M控制器，搭配PXI-5660向量訊號分析儀及PXI-5671向量訊號產生器來進行訊號的分析及產生。