NI近日宣布，发表新款NI PXIe-5630-6 GHz的双埠式向量网络分析器（Vector Network Analyzer,VNA），并为自动化测试产业的首款PXI规格VNA。由于可支持T/R参数的完整向量分析功能，并可具备精确的自动化校准与弹性的软件定义架构，此新款VNA极适用于自动化设计检验与生产测试作业。模块化的PXI架构搭配精巧的双埠式体积，更可将向量网络分析功能整合至测试系统中，而不需传统桌上型VNA的额外成本与庞大体积。

NI PXIe-5630的完整功能是专为自动化测试所设计，包含自动化的精确校准、双埠均提供完整的向量分析功能，与可扩充的参考平面，另有适于平行测试的弹性LabVIEW API。VNA亦具备进阶效能，包含10 MHz~6 GHz频率范围、超过110 dB的宽广动态范围，且扫瞄3,201个点时，可达每个点400 microseconds以下的扫瞄速度。此外，基于其PXI的规格，可于单一PXI机箱中整合最多8个NI PXIe-5630模块，确实平行执行多点的RF测试作业。

透过其既有的全功能软件人机接口，工程师即可控制NI PXIe-5630；或透过NI LabVIEW与NI LabWindows/CVI ANSI C开发环境的API，以程序设计的方式控制该款模块。此2款开发环境的API均已针对多核心功能而优化，除了可平行测试多组RF组件之外，并可大幅提升序列、切换式测试作业的传输量。

针对多款的PXI模块化仪器，NI PXIe-5630更进一步扩充了自动化测试的系列产品。基于既有的PXI工业级标准优势，此款VNA更能整合超过1,500款PXI仪器，以满足几乎所有的测试应用需求。VNA将于2010年10月正式上市。