R&S QAR汽车天线罩测试仪是一种为雷达整合测试量身定制的解决方案，用於分析和评估天线罩和保险杆的雷达相容性。罗德史瓦兹（R&S）增强了R&S QAR，藉由全新的R&S QAR-K50多合一量测软体，整车厂和Tier 1供应商能用二维的非破坏检测，获得与向量网路分析仪（VNA）和准光学（QO）装置非常接近的量测结果。R&S QAR操作也相当简便直观，使用上具备方便性。

R&S QAR藉由全新的R&S QAR-K50多合一量测软体，整车厂和Tier 1供应商能用二维的非破坏检测，获得与向量网路分析仪和准光学装置非常接近的量测结果。

R&S QAR是一种毫米波成像系统，用来对高要求的天线罩和保险杆材料进行测试和验证，具有高性能、高测试速度、高品质和直观操作的特色，非常适合用来开发、生产到验证天线罩材料，以及整合76GHz至81GHz雷达。

一般而言，空间分辨率较高时，入射角分散也会更大。典型的雷达感测器具有一定的视角，例如，全范围雷达（FRR）为+/-10。，短程雷达（SRR）为+/-60。。从材料特性量测技术出发，天线罩的反射叁数主要为垂直入射角进行定义，因为这些叁数可以用VNAs量测。R&S QAR-K50软体选项解决了这个问题。

将R&S QAR的量测结果与标准向量网路分析仪（VNA）和准光学（QO）装置的量测结果进行比较，可以观察到一些偏差，并用R&S QAR使用的较大光圈加以解释。

R&S QAR-K50软体选项这时就能发挥作用，它能自动检测材料样品的最高反射，并在测试区域进行平均。确定反射区域的平均值後，它能在7秒内将其作为量测结果显示给使用者。该值与VNA的S11和S22反射测量结果非常匹配。

在研发时使用VNA和QO装置进行的量测，现在可以直接与R&S QAR量测进行比较。与VNA装置相比，该装置仍采用微波成像，但天线孔径较小，因此对定位误差不太敏感，更适合量产环境。

R&S QAR-K50软体可自行检测正确的量测区域，并在样本位置稍微超出公差时向操作员提供光学回??。R&S QAR现在将其用於均匀性分析的高解析度图像（R&S QAR-K10软体），与一个坚固且易於使用的反射量具相结合。使用R&S QAR-K50软体选项获得的量测值与VNAs在QO装置中提供的结果具有直接可比性。

用於多合一量测的R&S QAR-K50软体选项可以安装在所有Windows 10仪器上，最新韧体使用金钥启动。产品现已上市。