安捷伦科技（Agilent Technologies）的93000 SOC系列测试系统新近推出Pin Scale HX高速扩充卡（Extension Card），这是一套可以量测数据速率高达12.8 Gbps之高速组件及接口特性的测试解决方案。Pin Scale HX提供了不折不扣的信号完整性（Signal Integrity），以因应新一代组件接口诸如PCI Express、HyperTransport和SERDES，以及新兴的高速内存和超高速数据通讯接口等完整的原速设计特性分析及量产测试的需求。

今日新的运算及通讯装置采用的高速总线和接口速度已达5 Gbps或更高，有些序列链接的数据速率甚至达到了10至12 Gbps的范围。高度的组件整合，再加上奈米技术的发展，造成了新型态的制程瑕疵及量测参数错误等问题。为了让良率尽早达到可获利的目标，制造商无不寻求能彻底验证新设计的特性，在产品实际投入量产之前，能协助订出合理边限（Margin）的测试解决方案。此外，降低整体测试成本的无止尽需求也促使制造商在大量生产时，采用BIST（内建自我测试）的能力及DFT（Design-for-test）的可测性设计。

安捷伦科技半导体测试事业群副总裁Pascal Ronde表示：「安捷伦科技持续在93000机台的架构上，推出弹性、可扩充的解决方案，以先进及创新的技术，提供制造商测试下一代以及未来的高速组件的需求，经由Pin Scale HX扩充卡加入93000机台中，客户便可拥有全世界最快速的组件特性量测能力。这正是我们在最低的测试成本上提供客户业界最佳的高性能量测能力，以保障客户在ATE投资的最佳实证。」