安捷伦科技近日发表旗下首要信号完整性测试解决方案的最新版本：物理层测试系统（PLTS）4.0。这个可靠的校验、量测与分析平台新增了多埠分析功能，非常适合从事高速数字设计，及必须处理印刷电路板、接线、IC封装和背板之微波传输线效应的信号完整性工程师使用。安捷伦同时还发表PLTS平台的分析专用软件PLTS Studio，它以经济的价格协助工程人员就Touchstone档进行测后分析。

安捷伦新推出的PLTS 4.0加入了一些重要的增强功能，使工程人员在设计时能够充满信心–考虑到现今不断改变的数字验证需求，这的确是一大优点。简化高速背板中的多个干扰差动串音量测后，此平台可轻易地转取12埠S参数数据，并迅速地找出串音问题的实体位置。可定制的组件配置图可从n埠数据集来管理大量的S参数档，并依埠的名称整理这些档案。当只有4埠数据时，该工具先进的档案转取功能会自动建立较大的Touchstone模型，如此便不必浪费时间编写自定义的转取软件或以手动的方式剪贴Touchstone数据。此外，使用快速又容易的电子校验模块，大约只要8分钟就能完成12埠VNA的短路-开路-负载-穿透（Short-Open-Load-Thru）校验。

Agilent PLTS 4.0的另一个优点是可让时域、频域和眼图分析与所有的工具产生最大的相关性，因而可被用来代替三、四种不同的工具。

眼图分析系透过新的用户可程控伪码型产生器来执行。工程人员不需要购买昂贵的伪随机二进制序列产生器，因为Agilent PLTS 4.0已直接在软件环境中内建一个虚拟的码型产生器。为确保达到最佳的准确度，眼图结果必须与安捷伦其他的电子量测设备产生关联。这项信息将使工程人员能够轻易且快速地找出及修正串音问题。

连同PLTS 4.0一起发表的是数据分析用的PLTS Studio软件。该软件的单独售价经济实惠，却使预算有限的工程人员能够在数字化用户环境中让量测式互连模型完全产生关联。基于以强大的分析工具来简化信号完整性特性描述之设计理念，这个软件加入了PLTS 4.0现在也具备的多埠分析增强功能。PLTS Studio分析引擎所提供的珍贵信息，将可协助工程人员更快地修正信号完整性问题。