美商吉时利仪器（Keithley）日前发表ACS Basic Edition，以及支持组件测试应用的特性分析和曲线扫瞄软件。最新版ACS Basic Edition软件进一步壮大Keithley的自动化特性分析套件（ACS）阵容，搭配Keithley SourceMeter系列产品的电源量测单元（SMU），可取代老旧的曲线扫瞄仪器，透过单一解决方案执行基本的曲线扫瞄及参数测试，并将成本压至极低的水平。

组件测试方案

初期的ACS系统是针对大型晶圆探针台以及规模较大的晶圆测试应用所设计；而ACS Basic Edition锁定桌上型的组件测试应用，这类应用虽不需整合式探针设备，但仍需要ACS平台提供的量测与软件自动化功能。ACS Basic Edition提供一套庞大的数据库，内含许多默认的组件测试程序，不仅能缩短启动时间、减少程序代码的撰写，还能简化测试流程。ACS Basic Edition结合了简单易用的曲线扫瞄仪，以及参数分析仪的分析功能，任何人都可透过ACS Basic Edition轻松对一个半导体组件进行测试，并立即进行特性分析曲线与参考曲线的比较。