安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，已將首款完全整合的1.1 THz網路分析量測解決方案交貨給日本山口大學（Yamaguchi University）。該解決方案纣提供山口大學在從事THz（兆赫）頻率的超常材料（metamaterials）研究上使用。

電磁頻譜的THz範圍，在高資料速率通訊、先進電子材料光譜學、太空研究、醫療、生物、監管及遠端感測上，有極大的應用潛力。儘管如此，THz範圍在頻譜領域中仍尚未被深入探索。再者，高功率的THz信號源在THz頻率範圍內，過於依賴具有有利特性的材料，因此材料研究遂成為最新的THz系統相當重要的一環。

安捷倫表示，其整合的量測解決方案足以解決該挑戰，其能準確量測新材料中的THz信號。該資訊對於山口大學成功進行材料研究有極大的助益。安捷倫的解決方案採用Virginia Diodes公司所生產的全球第一款完全校驗、750 GHz到1.1 THz的頻率延伸模組WR-01，以及安捷倫的高效能50 GHz PNA-X向量網路分析儀。這些儀器以優於50 dB的動態範圍，提供完全校驗的向量網路分析量測。

該公司進一步表示，使用者首度可以利用PNA-X的校驗技術，來執行穩定可靠的THz量測。該儀器的動態範圍，可確保使用者輕易地達到高靈敏度的量測。由於頻率延伸模組提供750 GHz到1.1 THz的頻率操作範圍，因此使用者在擷取較高解析度的影像時同樣輕而易舉。