半導體測試公司惠瑞捷推出可程式化介面矩陣（Programmable Interface Matrix），讓採用V5000e進行工程、測試開發及除錯作業的記憶體製造商也能具備矩陣（Matrix）的並行（Parallel）測試能力。V5000e搭配矩陣使用，可同時測試12個待測元件（DUT），能大幅提高整體的測試速度，同時減少作業人員介入的必要。

進入高階製程後，設計的複雜度對設計良率、製程良率的影響越來越大，越來越少的廠商能獨立承擔如此龐大的資本投資。製程進步所帶來的現象包括製造成本大幅降低、固定成本大幅增加、NRE（Non-Recurring Engineering；非重複性工程）費用增加、設計工具費用增加、IC設計難度增加。產品生命週期內總出貨量所帶來的長期利潤，未必能彌補立即增加的鉅額投資，減少測試時間也是降低晶片成本的方法。

隨著產品的生命週期持續縮短，生產製造商也必須將測試開發時間縮到最短，在此同時，測試機台上所要測試的記憶體元件類型卻愈來愈多樣。為了因應測試所有元件的挑戰，製造商在工程開發上需要的測試系統必須具備並行測試能力和足夠的彈性。然而，在工程開發環境中使用整套的量產系統並不符合成本效益，通常也不可行。V5000e搭配矩陣可以克服這些挑戰，同時縮短測試開發時間。

惠瑞捷記憶體測試解決方案事業部副總裁暨總經理Gayn Erickson表示，尋求特性量測或測試開發系統的記憶體製造商最好的選擇就是花數百萬美元，另外購置一套終程測試（final test）系統。但有了矩陣式介面，我們的V5000e使用者就可以在測試開發和除錯環境中擁有這些能力