帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
是德科技3kV高電壓晶圓測試系統專為功率半導體設計
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2024年10月15日 星期二

瀏覽人次:【1472】
是德科技(Keysight)推出4881HV高電壓晶圓測試系統,擴展其半導體測試產品組合。該解決方案可實現高達3kV的參數測試,支援一次性完成高、低電壓測試,進而提高功率半導體製造商的生產效率。
...
...
使用者別 新聞閱讀限制 文章閱讀限制 出版品優惠
一般使用者 10則/每30天 0則/每30天 付費下載
VIP會員 無限制 25則/每30天 付費下載

關鍵字: 晶圓測試  keysight  是德科技 
相關新聞
是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
是德科技再生電源系統解決方案新成員 支援電動車和再生能源系統
是德科技光學參考發射器適用於驗證下一代資料傳輸
是德科技14位元高精準度示波器問世 瞄準廣泛應用市場
相關討論
  相關文章
» 突破速度與連接極限 Wi-Fi 7開啟無線網路新篇章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» 解讀新一代汽車高速連接標準A-PHY
» Wi-Fi 7測試方興未艾 量測軟體扮演成功關鍵


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2025 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK94RC37PRGSTACUK9
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw