安捷倫科技於日前宣佈，將於2009年12月22日上午10:00舉行中文網路研討會，主題為“利用混合信號示波器進行DDR參數和相容性測試的技巧”。

DDR記憶體系統的除錯和驗證，需要能提供全面的參數和相容性測試的工具。這個網路研討會將介紹如何利用混合信號示波器，作一站式的解決方案來進行參數和相容性的量測。有興趣的人士可上網報名，免費參加研討會。安捷倫表示，該場研討會並提供線上解答問題，若有與會學員希望在網路研討會舉行前提問，可在填寫登記表時把問題事先發送給安捷倫。此外，安捷倫並針對在參加研討會後填交回函表的與會者可參加幸運抽獎。報名網址：http://www.eeplace.com/agilent/eventDetail2.ecp?lang=tw&action=DETAIL&eventid=1680