帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
專訪:安捷倫電子量測事業群柳本吉之與真鍋秀一
可提供非線性向量分析功能和提供MOI實作方法的網路分析儀

【CTIMES/SmartAuto 鍾榮峰 報導】   2009年03月27日 星期五

瀏覽人次:【2909】

市場對於高速串列傳輸纜線的應用需求越來越高,相關纜線測試品質需要更為精確的網路分析儀作為堅強後盾。儘管各家測量纜線的方法不一,但是能夠提供更為精確的各類參數反映、掌握更高效能的網路分析儀解決方案,此時非常關鍵。量測儀器大廠Agilent便接續推出可提供非線性向量分析功能的網路分析儀、以及可針對頻域和時域分析提供MOI實作方法的網路分析儀。

圖右二為安捷倫新業務開發經理柳本吉之,圖左二為產品線市場發展經理真鍋秀一。(Source:HDC) BigPic:600x402
圖右二為安捷倫新業務開發經理柳本吉之,圖左二為產品線市場發展經理真鍋秀一。(Source:HDC) BigPic:600x402

Agilent電子量測事業群元件測試事業部新業務開發經理柳本吉之表示,在放大器產品領域,線性與非線性同時存在,若要完整描述非線性放大器,只用線性S參數和部分的非線性參數是不夠的。此時便需要X參數(PHD)檔案方可立體掌握,同時也可簡化相關設計。藉由屬於矩陣性質的X參數和PHD模擬計算,可進一步理解並描述非線性設計要點,甚可取代S參數廣泛模擬非線性放大器,其在商業應用上的優勢也越來越明顯。

柳本吉之進一步指出,Agilent革新旗下的PNA-X高階微波網路分析儀,進一步提供非線性向量網路分析(NVNA)功能,可針對10~26.5GHz的RF非線性網路,提升更高效能的非線性分析,包括振幅及相位的協波失真量測(Harmonic distortion measurements)、輸出端諧波信號之相位量測與校正等校驗振幅和跨頻率相對相位。此外在軟體應用上,NVNA軟體以標準的PNA-X微波網路分析儀為基礎,也能提供PNA-X在線性量測上所具備的效能、彈性與量測能力。新的NVNA軟體提供X參數的非線性散射參數(scattering parameter)功能,可將線性散射參數延伸到非線性作業範圍。只需使用最少的外部硬體,NVNA軟體就可使4埠PNA-X提供非線性元件的特性描述X參數。此一非線性散射參數以及非線性脈衝波封域功能,適用於研究及設計RF主動元件領域。柳本吉之表示,NVNA系列主要以研究機構實驗室、軍方、大學院校電機電子科系、或是歐美功率放大器廠商使用為主,特別針對RF放大器應用為核心。

此外,Agilent亦發表使用網路分析儀來進行DisplayPort纜線評估的實作方法(Method of Implementation;MOI),提供相關單機解決方案。Agilent電子量測事業群元件測試事業部向量網路分析儀產品線市場發展經理真鍋秀一表示,目前Agilent的MOI實作方法在頻域分析(Frequency Domain Analysis)和時域分析(Time Domain Analysis)內容技術越來越成熟,在頻域分析部分包括注入損耗(Insertion Loss)、回返損耗(Return Loss)、遠端雜訊(Far end Noise)、近端雜訊(Near End Noise)等測試程序都已通過驗證。Agilent所推出的網路分析儀MOI實作方法,正可當作進行DisplayPort纜線評估時的頻域分析標準儀器,在進行分析時,可在單一與差動模式下執行上述量測程序。真鍋秀一指出,屬於VNA系列被動鍵為主的網路分析儀及MOI實作方法,以量測20GHz以下頻譜範圍為主,可提供9kHz~20GHz的頻率範圍,其效能與校驗功能可提供ECal、TRL和反內嵌(de-embedding)的準確度和重測穩定度。在MOI中使用TRL校驗功能,可為頻域分析提供可靠的量測。

真鍋秀一並指出,網路分析儀與實作方法不僅可以執行頻域分析,亦可執行包括阻抗(Impedance)、對內(Intra Pair)和對間(Inter Pair)時序不對稱(Skew)量測等時域分析功能,並可提供完整分析的單機解決方案。真鍋秀一深入說明表示,時域分析是藉由對於S參數(S parameters)的精確測量並使用逆傅立葉轉換所計算得之;此外,MOI中還結合Ecal和埠延伸(Port Extension)功能,準確地補償fixture/cable網路,包括對於時序不對稱的補償。同時真鍋秀一表示,未來VNA網路分析儀亦可針對USB3.0量測需要提出相關單機解決方案。

關鍵字: 非線性參數  X parameters  安捷倫(Agilent柳本吉之  真鍋秀一  測試系統與研發工具  零件測試儀器 
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8C36T3GK6STACUK0
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: [email protected]