帳號：
密碼：
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
LED測試難上青天？ NI新款SMU輕鬆應對
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2014年02月21日 星期五
瀏覽人次：【5669】
高亮度LED、IGBTS，與MOSFET等元件，常需要SMU輸出瞬間高瓦數的電源進行量測。但高瓦數的SMU往往價格昂貴。此外，高瓦數的元件測試常需要散熱機制，這造成了自動測試上的複雜度也因此增加。
...
...
使用者別 新聞閱讀限制 文章閱讀限制 出版品優惠
一般使用者 10則/每30天 0則/每30天 付費下載
VIP會員 無限制 25則/每30天 付費下載

關鍵字： SMU  NI 
相關新聞
‧ 稜研與NI聯合發表毫米波通訊原型設計解決方案
‧ 低軌衛星產業成新藍海 NI聯合眾執芯提供測控數傳新思路
‧ NI發佈最新軟體優化測試工作流程
‧ 益萊儲與NI合作出租自動化測試解決方案 提供亞太靈活性選擇
‧ NI台灣於2022年3月正式進駐台北101
相關討論
  相關文章
» 突破速度與連接極限 Wi-Fi 7開啟無線網路新篇章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望：引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼


刊登廣告 ｜ 新聞信箱 ｜ 讀者信箱 ｜ 著作權聲明 ｜ 隱私權聲明 ｜ 本站介紹 ｜  
︱ Copyright ©1999-2025 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK94N3GZU3SSTACUK0
地址:台北數位產業園區（digiBlock Taipei） 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw