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挑戰ATE設備 PXI展現RF測試優勢
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2013年07月09日 星期二
瀏覽人次：【4698】
傳統半導體RF元件的測試，均需透過笨重且昂貴的ATE（自動化測試）設備來進行，過程耗時，且十分不經濟。面對這樣的問題，市場似乎需要更有彈性、更低成本、且維持高可靠度的新型態儀器設備。也因此，完全具備這些優勢的PXI模組化儀器，正好扮演了RF市場的救世主角色。
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關鍵字： PXI  NI 
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