安捷倫科技(Agilent)宣佈，為協助從事設計與微控制器有關產品或在類比、數位混合環境中從事設計的工程師，面對快速變遷的技術與愈來愈複雜的量測挑戰，該公司將於10月17日至19日分別在高雄、台北與新竹三地舉辦微控制器測試研討會，以協助設計工程師擁有最新的類比、數位混合的除錯量測技術。

安捷倫表示，此次研討會內容將針對觸發微處理器I/O匯流排上的數位訊號、使用時間篩選觸發功能與複雜的PWM訊號同步、突波干擾訊號的除錯及觸發、系統啟動時對電源信號的分析做重點介紹。更透過實際操作量測儀器，即提供一個實際的實驗室環境，與會者可以在此學習如何使用混合信號示波器，快速擷取類比與數位混合信號，並對此信號執行特性分析。