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愛德萬測試瞄準非揮發快閃記憶體IC 推出高產能測試方案
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】   2021年11月30日 星期二
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愛德萬測試 (Advantest Corporation) 推出針對NAND快閃記憶體之最新高產能記憶體測試機，在進行晶片功能測試的同時，亦提供高精確度的時序、可重複性與錯誤偵測。藉由比前代提高5倍以上的資料傳輸速度，最新設計的T5221系統不僅能提升生產效率，還能降低晶圓測試、內建自我測試 (BIST) 以及晶圓級預燒 (WLBI) 的測試成本。
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關鍵字： NAND  Flash  愛德萬測試 
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