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歐姆龍X射線自動檢查平台 有效解決晶片檢查量產化和自動化挑戰
【CTIMES/SmartAuto 王岫晨 報導】 2024年09月05日 星期四
瀏覽人次:【2448】
近年來,半導體產業在微型化領域,對於小晶片(chiplets)的整合技術進行封裝的需求正不斷增加。與傳統平面設計相比,小晶片的結構夠為複雜,並且採用3D封裝,這對於檢測精度也增加了嚴苛的要求。
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