半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) 於8月7~9日假加州聖克拉拉會議中心 (Convention Center) 舉行的年度快閃記憶體高峰會 (Flash Memory Summit) 上，展示針對PCIe Gen 4固態硬碟 (SSD) 的最新解決方案，採用的是其MPT3000測試機台；此外亦將於會上發表兩篇技術論文。

愛德萬測試展示業界首款針對PCIe Gen 4 SSD之開發與製造而設計的單一系統測試解決方案，採用其MPT3000平台。此款完全整合的系統將能幫助客戶加速次世代SSD產品的上市期程，其優勢在於運用了愛德萬測試PCIe Gen 3測試解決方案業已通過嚴謹驗證的測試架構和軟體，並且免除了等待第三方Gen 4應用廣泛商用的時間。鑒於上述優點，愛德萬測試得以為SSD製造業者開拓一條風險最低、速度最快的產品上市途徑。

愛德萬測試技術專家於本屆峰會發表兩篇技術論文。

在8月8日 (三) 上午8:30登場的201-1「測試/效能分析」(Testing/Performance Analysis) 議程中，Linden Hsu以「診斷發生於測試期間的SSD故障問題」(Diagnosing SSD Failures During Testing) 為題發表演說，分享如何藉由蒐集、分類和分析來自DUT與測試設備的資訊，找出裝置故障的原因。

在8月9日 (四) 上午8:30舉行的301A-1「測試議題」(Testing Issues) 議程中，Sneha Nadig將針對「雙埠NVMe SSD測試」(Testing Dual-Port NVMe SSDs) 做分享，涵蓋具備多訊號路徑且能同步連結兩個主機的裝置，這類裝置性能在企業存儲市場大獲青睞。