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愛德萬測試於快閃記憶體高峰會展SSD測試方案
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部整理 報導】   2018年08月08日 星期三

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半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest Corporation) 於8月7~9日假加州聖克拉拉會議中心 (Convention Center) 舉行的年度快閃記憶體高峰會 (Flash Memory Summit) 上,展示針對PCIe Gen 4固態硬碟 (SSD) 的最新解決方案,採用的是其MPT3000測試機台;此外亦將於會上發表兩篇技術論文。
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關鍵字: 快閃記憶體  SSD(Solid State Drive, 固態硬碟製造業  愛德萬測試 
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