美商吉时利仪器（Keithley Instruments）宣布推出3.2版的ACS（Automated Characterization Suite）软件，支持半导体组件测试，以及组件、晶圆、晶舟层级特性分析的功能。全新推出的3.2版本加入了强大的多部位并行测试（multi-site parallel test）能力，大幅提升ACS整合式测试系统的自动化功能，除适用于晶粒分类与新型晶圆层级坐标定位等应用，也能支持Keithley新款具备1fA电流量测分辨率的Models 2635与2636 System SourceMeter仪器。这些新功能组成一个符合高测试弹性与产能速度，且极具价格效益的测试解决方案，同时此方案也适用于实验室和生产设定等无人操作的环境。