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高速全自动检测设备客制化开创晶圆检测无限商机
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2015年08月05日 星期三
浏览人次：【10064】
随着消费性电子产品需求快速增长，对于IC精密检测的需求亦不断提高，推动了自动化检测设备的市场发展。国家实验研究院仪器科技研究中心（以下简称仪科中心）透过「光学系统整合研发联盟」平台，结合巨积精密与台湾师范大学机电工程系张天立教授研究团队，共同研发「晶圆电性测试暨电路瑕疵检测设备」，可协助国内厂商于半导体后段制程中快速精准判断与筛选晶圆良窳。
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關鍵字： 半导体制造与测试  測試系統與研發工具 
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