安捷伦科技近日表示，将于2010年3月12日于新竹烟波大饭店，举办【2010半导体先进量测论坛】，会中将深入剖析向量分析的新知与技术。

半导体技术的进展，扮演着近来资通讯产品不断推陈出新的重要推手，相关的元器件为了提升效能并因应环保节能的趋势，三高（高速High-Speed、高频High-Frequency、高压High-Voltage）、非线性（Non-linear）应用与信号完整性（SI，Signal Integrity）已成为半导体领域的新兴议题与挑战。在半导体相关领域，先进且有效率的量测与验证方案，确实成为加速研发并确保制造质量的关键。

安捷伦表示，今年第一波的半导体盛会旨在结合知名产业协会，及市场上多家量测设备供货商的丰富资源，提供所有参与半导体相关研发及制造的伙伴们，最实时的产业信息及最新且完整之测试与验证解决方案。此场活动之协办单位包括STAr思达科技、Cascade康思德精密科技、SEMI(国际半导体设备材料产业协会)。除了丰富的主题分享外，现场亦备有实机展示摊位及惊喜实用好礼，有兴趣的朋友可至http://www.home.agilent.com/agilent/eventDetail.jspx?cc=TW&lc=cht&ckey=1788709&nid=-11145.0.00&id=1788709了解完整讯息及在线报名。