高亮度LED、IGBTS，与MOSFET等组件，常需要SMU输出瞬间高瓦数的电源进行量测。但高瓦数的SMU往往价格昂贵。此外，高瓦数的组件测试常需要散热机制，这造成了自动测试上的复杂度也因此增加。

NI东亚区营销技术经理张天生(左)与营销工程师潘建安(右)共同推广新一代的SMU。

如果SMU输出瞬时响应不够快速精确，overshooting的问题往往会造成待测物的损毁。为了避免这个问题，就必须把SMU的速度降低，但这样将会影响测试效率。而多信道的精确电源量测，仪器自动化不易，且仪器堆栈占空间，也影响接线效率。

NI自动化测试东亚区营销技术经理张天生表示，为了解决这样的问题，NI推出了全新的PXIe-4139系统电源量测单位(SMU)，可透过单插槽PXI Express模块，来提供高功率、精确度与速度等优势。这款SMU结合了功率、精确度与速度，适合丰富的应用领域，包含制造测试或实验室特性测试，并且适用于IC (包含PMIC与RFIC)、分离式装置 (包含LED与光学收发器)甚至是机板测试等装置。针对多信道数应用，透过单一4U PXI机箱即可组装最多17个SMU信道。

张天生说，PXIe-4139提供4象限操作，最多可供应20W的DC功率，而且电压与电流边界分别是±60V与±3A。此模块具备独特的ADC技术，用户能以100fA的电流分辨率执行高精确度量测，或是以高达1.8MS/s的速度执行高速撷取作业。PXIe-4139是一种硬件时序的仪器，具有高速序列引擎，可以同步执行多个 SMU的撷取作业。此模块可支持主计算机与SMU之间的直接DMA串流功能，所以用户能够以完整的仪器更新率与取样率，串流大量的波形与量测数据。

而针对高电流需求的应用，PXIe-4139可以50V产生最高10A的脉波，瞬间功率高达500W。取决于负载与SourceAdapt控制设定，最短脉宽可达50μs。短脉宽不仅有助于更快完成测试，还可以尽量减少待测装置的局部热度，帮助工程师执行测试作业，不必使用散热片或其他热能控制设备。

PXIe-4139也搭载了SourceAdapt技术。有了这种新一代的SMU技术，即可针对任何负载客制化调整SMU响应，进一步达到最佳响应、最高稳定度与最小瞬时。避免过冲情况还可以保护待测装置，同时排除会影响系统稳定性的振动。 此外，最小的上升与下降时间能够尽量缩短测试时间。处理无功负载时这个功能会特别实用，尤其是多种测试应用常见的电容负载。