Mentor Graphics于12月18日宣布，科雅科技（Goyatek Technology）已采用它的可测试设计（DFT）工具，做为科雅可测试设计服务流程标准。 Mentor的MBISTArchitect记忆体内建自我测试工具和BSD Architect边界扫描自动化工具都是技术领先产品，可协助科雅持续加强他们的可测试设计能力，这也是科雅选择它们的主要原因。

科雅是以台积电为基础的SoC/ASIC设计制造代工服务（Turnkey Service）和IP矽智财供应商，拥有杰出工程能力来支援台积电先进制程技术，并以此广获业界认可，在台积电设计服务联盟中，科雅是第一家同时支援和完成0.18及0.25微米设计的厂商；由于科雅必须支援这些复杂的设计制程技术，他们的客户又会使用各种不同设计流程，因此科雅需要更强大的可测试设计工具，以便提供更高的测试覆盖率、弹性和创新的全速（at-speed）测试能力，确保客户得到更准确测试结果，进而提升最终产品的品质。

科雅CAD部门主管Nai-Yin Sung表示，他们必须支援复杂设计流程和矽智财，因此需要最先进工具和测试技术。 Mentor GraphicsR拥有业界最好的可测试设计工具，它们又可加入任何设计流程，这对科雅和客户都非常重要。 MBISTArchitect和BSDArchitect工具为科雅带来一组完整功能，使他们得以节省时间，提供最高的测试品质。

MBISTArchitect工具包含MBIST Full-Speed​​功能，它采用Mentor正在申请专利的管线化处理技术，可同时把测试资料输入目标系统、从目标系统读取这些资料、并且比较执行结果，使传统的「全速」测试能更快完成；这项功能可大幅缩短测试应用时间，使测试资料的重复使用性更高，并产生更高品质的测试结果。BSDArchitect工具可将边界扫描电路的实作自动化，大幅减少研发过程的所须时间；这套工具还包含弹性的测试存取埠合成引擎，可支援任何边界扫描组态，彻底测试元件的内部结构，例如记忆体内建自我测试、嵌入式核心和矽智财。