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09安捷伦电子零组件设计暨量测研讨会三月登场
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2009年02月23日 星期一

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台湾安捷伦科技将于2009年3月17~18日于台北、 新竹、高雄等地举办『2009 安捷伦电子零组件设计暨量测研讨会』,该研讨会为一免费研讨会,会中将针对当前组件设计与量测相关等热门主题有所讨论。

台湾的通讯及信息产业近年来蓬勃发展,高性能主/被动电子组件及优异的量产能力对于相关产品全球市占率之不断提升有着居功厥伟的贡献,其所衍生出来的组件设计、量测及系统验证解决方案无疑是所有先进及工程师们非常重视的主题。此外,在此次研讨会中,安捷伦将有多项应用解决方案实机展示,并邀请合作厂商Maury(隽仪代理),STAr思达科技及Pentad泛达科技一同参展共襄盛举。安捷伦表示,期望能藉此与产官学先进分享经验,协助国内组件制造商克服目前量测技术上的严峻挑战以提升国际竞争力。

此次研讨会议题包含一般主被动组件量测、多埠组件量测、Cable符合性测试、MIMO天线设计、信号完整性验证、最新校正技术、功率组件与电子装置之电源设计、非线性组件分析与建模、材料测试、半导体奈米及MEMS相关应用等。欢迎踊跃报名参加!详细活动信息可浏览安捷伦网站 www.agilent.com.tw/find/events 或致电安捷伦客户服务中心(0800-047866)并注明活动代号MC#19281。

關鍵字: Agilent 
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