由于全球的金融海啸再次紧缩各企业的预算，因此测试工程师必须找出更高效率的测试装置。美商国家仪器（NI）认为，软件定义的仪器控制、平行处理技术，还有无线与半导体测试的新方法，这3大趋势将会于2009年大幅提升测试与量测系统的效率。这些趋势亦将协助工程师开发更快、更具弹性的自动化测试系统，并降低整体的测试成本。

软件定义的仪器控制

软件定义的仪器即为所谓的虚拟仪器，包含模块化硬件与用户定义的软件，可让工程师透过常见硬件组件进行客制数据处理，以整合标准与用户定义的量测作业。许多公司正以N LabVIEW图形化程序设计平台与开放式的PXI硬件标准为架构，试图全面采用软件定义的仪控。根据PXI系统联盟（PXI Systems Alliance，PSA）的估计，全球将于2009年底布署超过100,000组PXI系统，而未来10年内更将达到目前数量的1倍。

采用平行处理技术

多核心技术已成为自动化测试系统的标准功能，亦为电子装置处理繁多数据时所必备。测试工程师可透过如LabVIEW的现有平行程序设计环境，跨多个计算核心自动分配多线程的应用，以达到最高效能与传输率，迅速享有多核心技术的优势。软件定义仪控另1项成长中的领域，即为FPGA的系统层级工具。这些FPGA架构的仪器，让测试工程师建置更复杂的数字讯号处理作业，传输率更达到过去的数倍水平。

无线与协议知觉（Protocol-Aware）测试不断延伸

除了不断提升技术优势之外，软件定义的仪器控制，更适用于迅速发展的无线与知觉协议测试领域。使用传统仪器的测试工程师，必须先等待制造商针对该标准开发专属的独立仪器，才能够进行所需的测试。而透过软件定义的仪器，工程师不需等待新的无线标准成熟，即可使用一般模块化硬件组件测试多种标准，并于测试系统中客制所需的无线协议与表达式。

此外，半导体产业的系统单芯片（SoC）与系统整合封装（SiP）日趋复杂且普遍，亦不断提升「协议知觉 ATE」或测试装置的系统需求。半导体测试与降低测试成本的需求不断提升，亦导致如Semiconductor Test Consortium与Collaborative Alliance for Semiconductor Test的业界组织针对现有标准，积极寻找开放的测试架构，并针对如PXI的模块化且软件定义仪控，以期整合至传统的半导体ATE中。透过半导体测试系统中的软件定义FPGA架构仪器控制，工程师仅需使用传统ATE的标准针脚电子装置，即可达到实时反应效能、降低测试总成本、囊括更多相关用途，并提升除错功能。