帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 新聞 /
安捷倫新書上市探討LTE技術之量測與設計挑戰
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2009年04月17日 星期五

瀏覽人次:【6346】

安捷倫科技(Agilent.)發表其最新出版的《LTE和4G 無線技術的演進–設計與量測挑戰》一書,書中詳細解說最新的3GPP LTE蜂巢式無線技術,及其衍生之工程設計與測試的挑戰。此書可至安捷倫網站預購。

安捷倫科技新書「LTE和4G 無線技術的演進-設計與量測挑戰」
安捷倫科技新書「LTE和4G 無線技術的演進-設計與量測挑戰」

此書由多位安捷倫量測專家所共同撰寫,書中針對LTE無線介面的實體層量測,提供許多寶貴的資訊與論述。此外,LTE權威人士K.F. Tsang博士以及Anite Telecoms公司亦傾囊相授,完整介紹各種信令與協定,並發表精闢的分析。全球行動通訊業者預計將於2010年開始部署LTE商用網路,針對複雜的LTE技術,書中亦有詳細的說明,並提供許多實用的量測技巧與專業知識。

安捷倫科技電子量測儀器事業群總經理張志銘表示,安捷倫撰寫此書旨在協助客戶快速地設計並部署LTE網路。這是一本由量測專家寫給量測專家閱讀的專業書籍,書中蘊含豐富而珍貴的測試資源,可加速LTE行動通訊網路之部署。

此書有許多章節詳細闡述LTE所使用之先進技術,例如多重輸入多重輸出(MIMO)和單載波頻分多工存取(SC-FDMA)等全新的上行鏈路調變機制。同時,此書亦深入探討上層信令及系統架構演進(SAE)等議題,並說明如何排除LTE在設計與測試方面的挑戰,令早期採用LTE技術的業者受益無窮。此書有多位作者都是3GPP標準委員會的會員,他們分別在書中探討如何驗證接收器與發射器的設計、討論量測LTE系統協定的技巧,並提供RF和信令相容性測試的最新資訊。

關鍵字: LTE  安捷倫(Agilent
相關新聞
是德科技IMS eCall驗證率先取得GCF認證
高通推出IIoT專用5G數據機 傳統LTE模組無縫過渡至5G
高通Snapdragon 845為三星Galaxy S9系列提供連接與沉浸式體驗
威潤科技重視用路安全 整合Mobileye先進駕駛輔助系統
Sequans和意法半導體合作LTE追蹤定位平台
comments powered by Disqus
相關討論
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.108.162.216.91
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: [email protected]