Mentor Graphics於日前表示，智原科技（Faraday）已決定採用Mentor Graphics的可測試設計（DFT）工具，並將它用於智原的系統單晶片設計流程；Mentor擁有已通過實際考驗的可測試性設計技術，並能協助客戶提高生產力、改善測試品質和降低測試成本。智原是已通過矽晶實證的矽智財元件主要供應商，也提供系統單晶片設計服務。智原認為今日的系統單晶片設計需要多套設計解決方案，才能確保這些元件獲得完整徹底的測試。

Mentor Graphics表示，該公司所提供的可測試性設計工具，可用來測試複雜的系統單晶片設計，這些工具擁有很高的錯誤涵蓋率和應用彈性，可加入任何設計流程。智原將利用FastScan工具執行自動測試圖樣產生，MBISTArchitect執行記憶體內建自我測試；為使測試流程更完整，智原還將使用BSDArchitect實作自動邊界掃瞄功能，DFTAdvisor執行掃瞄合成和可測試性分析，並使用DFTInsight工具執行圖形導向的可測試性設計除錯與分析。

智原ASIC技術副總裁黃奇邑博士表示，「智原的發展時程非常緊迫，可用頻寬卻相當有限；Mentor為智原提供所須的可測試設計工具，使其能在最短時間內，為系統單晶片設計產生非常高品質的測試。」MBISTArchitect工具提供完整的記憶體內建自我測試功能，不但節省晶片面積，達成極高的錯誤涵蓋率，還能將測試時間減至最少；智原可從一組事先定義的業界標準演算法中選擇，例如March C和Checkerboard，或是選擇工具本身提供的MBIST Flex使用者定義演算法，利用它們的彈性測試圖樣能力執行全速（at-speed）測試，藉以找出與技術有關的各種錯誤。MBIST Full-Speed是一種採用管線執行技術（pipelining）的全速內建自我測試功能，可大幅減少測試應用時間；此外，這套工具還提供完整的組態設定能力，讓測試資料的重複使用更方便。