传统半导体RF组件的测试，均需透过笨重且昂贵的ATE（自动化测试）设备来进行，过程耗时，且十分不经济。面对这样的问题，市场似乎需要更有弹性、更低成本、且维持高可靠度的新型态仪器设备。也因此，完全具备这些优势的PXI模块化仪器，正好扮演了RF市场的救世主角色。

PXI RF仪器的出现，适时填补了市场上所缺乏的低价格与低接脚仪器产品这个区块。 BigPic:468x223

NI营销经理郭皇志指出，事实上随着近年来无线通信市场的蓬勃发展，RF组件的测试挑战早就成为相关厂商心中最大的隐忧，特别是传统ATE仪器动辄高达数千万元的购置成本，与接脚数过多的低弹性，让测试过程所费不赀。面对ATE设备成为测试过程中的痛，量测厂商以更具优势的仪器来取代传统ATE设备成为当务之急。而PXI模块化仪器的出现，也直接解决了困扰业者已久的测试问题。

郭皇志说，其实PXI仪器的优势，早早就体现于测试市场之中。与ATE设备相较，PXI仪器的购置成本仅需ATE的十分之一，且具备高度弹性，不必像过去需以过多接脚的ATE设备来测试RF组件。这已经在RF测试市场造成很大的回响。不仅价格方面已经拥有极大的竞争力，且NI积极透过并购包括AWR与Phase Matrix等厂商，来进一步掌握RF关键技术，藉以提升PXI仪器的RF测试能力。

当然，PXI RF仪器尽管已在RF测试市场稳占一席之地，只不过高速数字讯号仍是PXI仪器的最大罩门，使得ATE设备在固有疆域还是站有稳定基础，例如高速数字与高功率电源芯片等测试市场，目前仍由ATE所稳固把持。

事实上，PXI RF仪器的出现，适时填补了原本市场上所缺乏的低价格与低接脚仪器产品这个区块，着实让RF仪器方案采购人员笑颜大开。在这些优势的催化下，PXI仪器未来在RF组件测试市场，势必将持续夺下更高的占有率。