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年度NI『虚拟仪控应用征文比赛』正式开跑
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2007年05月22日 星期二

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量测与自动化产业厂商--美商国家仪器(National Instruments,NI),自2002年起举办第一届『虚拟仪器应用征文比赛』后,历年来均获得来自产业界与学术界的热烈支持与广大回响,去年更突破200位参赛人数,创下近几年新高。参赛作品包含了电子量测、通讯应用、机器视觉控制、工业自动化、生物医学、国防武器及光电应用等各种精彩的应用。NI用户的热情参与和成果分享,见证了NI虚拟仪控如何有效地协助生产端、设计端及研发端成功降低量测成本及大幅改善量测效率,同时于学术界更开启广泛的前瞻性虚拟仪控的应用。

美商国家仪器表示,该公司为加速工业界开发符合特定需求的量测控制系统及协助学术研究机构培育相关人才,多年来不遗余力推广虚拟仪控技术的发展及应用。身为量测控制系统和自动化软、硬件产品的领导者,美商国家仪器今年所举办的虚拟仪控征文比赛已迈入第五年,每年的征文比赛NI皆邀请数字国内知名大学教授担任评审,也因此成为台湾用户引颈期盼的研究成果发表舞台,得奖者不仅可提升个人研究声誉,NI更提供丰厚大奖及丰富的媒体资源予以报导曝光。

美商国家仪器「第六届虚拟仪控应用征文比赛」已正式展开,该活动自即日起正式接受报名,至2007年7月31日截止受理。相关活动办法及简章说明请至ni.com/taiwan/paper_contest,或请电洽(02)2377-2222转营销部吴先生。

關鍵字: NI 
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