因应IC设计在亚洲的蓬勃发展，由工业技术研究院、国际电机电子工程师学会共同主办的国际超大规模集成电路设计、自动化暨测试（2007 VLSI-DAT）研讨会，今（25日）起一连三天在新竹国宾饭店举行。会中除了安排大师级的专题演讲外，并发表来自全球64篇突破性的前瞻技术论文，吸引欧美日等17国超过500位专业人士与会，共同切磋分享全球IC设计最新技术与发展。开幕式中并将颁发ERSO Award给思源科技吕茂田董事长，表彰他多年来在设计自动化技术的杰出贡献。

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今（25）天登场的VLSI-DAT，邀请到美国德州大学奥斯汀分校的Jacob Abraham博士演讲芯片嵌入式系统的原生模式自我测试（Native-Mode Self Test for Embedded Systems on a Chip）、瑞士洛桑联邦科技大学Giovanni De Micheli博士主讲奈米电子的机会与挑战（Nanoelectronics：challenges and opportunities）、日本东芝Tohru Furuyama博士演讲数字消费及移动式整合芯片的挑战：更多摩尔定律的可能性（Challenges of Digital Consumer and Mobile SoC's：More Moore Possible）。透过这个国际级的技术平台，让全球半导体与IC设计的前瞻技术研发成果及宏观产业趋势在此交流，为台湾半导体产业注入创新思维。

此外，为满足业界对IC设计的强烈需求，下午开辟一场国内IC设计领导厂商发表最新技术研发成果的产业论坛，由工研院芯片中心吴诚文主任邀请，参与的厂商包括智原、瑞昱、联发与思源，除了提供国内外业界相关领域人士交流的机会外，也藉此在互动的竞争中找到合作的契机。

除了前瞻性的论文与演讲之外，VLSI-DAT更将于4/27下午1：30-4：30安排三场深入的教学课程（Tutorial），分别邀请到交通大学吴介琮博士、美国德州大学奥斯汀分校David Z. Pan博士与卡内基美隆大学Radu Marculescu博士，分别就高效能Pipelined ADC原理与设计、可制造与变异的奈米级实体设计、多重处理器单芯片设计：以通讯为中心的观点为题，进行3个小时的深度经验传授，精彩可期，欢迎至现场报名参加。（研讨会网址：http://vlsidat.itri.org.tw/2007/General/）

全球半导体产业景气稳步走扬，数字生活趋势持续加温，消费性电子产品已成为半导体产业和IC设计产业的主流应用产品。2007 VLSI Week于23日展开，会中同时也分享21世纪半导体的挑战与机会，并探讨半导体先进技术的3D IC、非挥发性内存技术、组件与制程、仿真与测试等议题，今年亦首度颁发「ERSO Award」给台积电副董事长曾繁城、汉民科技董事长黄民奇、思源科技董事长吕茂田等三位，表彰他们在推动台湾半导体产业发展上的杰出贡献。