安捷伦(Agilent)将于四月十日假新竹喜来登大饭店举办2012组件测试与应用技术论坛，邀集学术先进、多家知名量测设备领导供货商，与安捷伦国内外的专家们共同主讲八个讲题，并安排八个不同主题的实机展示，以飨顾客。

组件技术及半导体科技的进步推升了近来平板与智能型手机、高速无线通信及数字传输芯片、绿色节能产品以及云端应用的蓬勃发展，并得以延伸到资通讯产品以外诸如生医化学等多项应用。

因此本年度组件与测试应用技术论坛，邀请成大电机所的庄惠如教授主讲MM-wave Life-Detection System (MLDS) and Related Radio-on-Chip (RoC) Development；与中山大学电洪子圣教授主讲 Green Radios for Cognitive Sensors and Doppler Radars。

同时，还有以产业关注的主动与背动组件的测试挑战、DC及RF参数量测、如何降低噪声影响完成更精确的RF/uW 信号量测、低频至高达500GHz的on-wafer量测及探针方案、高速连接接口之信号完整性量测方案， 1/f on-wafer量测及组件建模解决方案等。

安捷伦最受欢迎的实机展示包含了： 无线通信信号分析、EEsof EDA及模块式量测方案、组件量测及系统组件 、高速数字量测、康思德精密科技的晶圆探测先进技术、思达科技的半导体及功率组件参数量测，以及各种工程师需求的综合量测方案。

安捷伦的活动报名至四月九日为止，请直拨安捷伦的免付费的080047866指名代号『019827』，或请上网到www.agilent.com.tw/find/events 直接送出报名表。