由工业技术研究院（ITRI）、国际电机电子工程师学会（IEEE）所共同举办国际超大规模集成电路设计、自动化与测试（VLSI-DAT 2007）研讨会，今起（25日）一连三天在新竹国宾饭店举行。会中除了大师级的专题演讲外，并发表64篇前瞻技术论文，共有欧美日17国超过500位专业人士参与，开幕式中大会并颁发ERSO AWARD给台积电副董事长曾繁城、汉民科技董事长黄民奇、思源科技董事长吕茂田，以表彰多年来思源在设计自动化技术的优良贡献。

热闹非凡的VLSI-DAT会场（Source：HDC）

下午大会并安排瑞昱、联发科、思源以及智原等台湾IC设计领导厂商的最新技术研发成果论坛，包括瑞昱设计技术研发部研发中心项目经理卢彦儒的「Microprocessor Modeling and Simulation with SystemC」、联发科数字消费事业部芯片开发处技术副理李坤傧的「A Memory-Efficient Progressive JPEG Decoder」、思源研发中心副理林柏宏的「A Matching-based Placement and Routing System for Analog Design」、智原技术经理洪嘉男的「An LLC-OCV Methodology for Statistic Timing Analysis」、资深技术经理李顺庆的「Test Power IR Drop Closure Flow for NetComposer-I Platform」。

至于VLSI-DAT所安排的大师课程，则邀请到台湾交通大学电工系吴介琮教授、美国德州大学奥斯汀分校David Pan 教授、美国卡内基美隆大学Radu Marculescu教授，分别讲授Pipeline ADC技术在高效能模拟与混合讯号电路设计研究、Design for Manufacturability在奈米技术领域的物理表现以及多处理器SoC单芯片设计在network on chip通讯时所需的崭新技术等。