美商吉时利仪器(Keithley)宣布今后将与Stratosphere Solutions进行密切合作。Stratosphere Solutions是专为IC厂商提供创新参数良率改良方案的厂商。两家公司将合作，运用Array TEG(测试组件群)技术，以支持先进制程的开发和监控。

IC制造商试图制造越来越小的组件，因此sub-65nm的制程变异参数，对设计与测试工程人员形成艰巨的挑战。也因此，半导体产业愈来愈需要能够有效监控极端敏感制程的解决方案，以提高IC效能同时维持良率。Keithley 与Stratosphere Solutions将为双方的顾客提供独特的特性分析架构，结合Keithley的S600系列参数测试系统 以及StratoPro IP，达成高产量、高流量、且可靠的参数量测，以确保顾客的成功。

Keithley事业管理副总裁Mark Hoersten表示：「随着半导体技术的开展，组件微型化已达奈米等级，量测技术不仅必须跟上甚至还得超越制造商制造与测试这些组件的能力。作为半导体量测技术的领导厂商，Keithley希望与其他业界领导厂商合作，针对最先进的应用开发各种创新的解决方案。 」