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晶圓檢測：高解析度全域快門相機提升晶圓缺陷檢測效率
 

【作者： The Imaging Source兆鎂新】   2024年09月25日 星期三
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在半導體製造行業中，晶圓的缺陷檢測是確保產品品質的關鍵環節。晶圓缺陷檢測的精確性直接影響到產品的質量和生產效率。


本文將詳細介紹DFK38UX304相機在該應用案例中的表現，並探討其如何提升檢測效率和準確性。


人工檢測的問題
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