隨著電容和電感的等效串聯電阻（ESR）不斷地改良，要量測低ESR值也變得愈來愈困難。ESR量測的誤差是由ESR的最小值（或絕對值），或是複數信號向量的相位所造成的，兩者都可能帶來非常嚴重的量測挑戰。雖然可以利用誤差修正的技術將誤差降至最低，但是在某些情況下，還是會因為物理的限制而變得不可行。設計人員若能對量測技術的限制、頻率相依性以及夾具的誤差修正有所瞭解，就可以運用適當的方法來得到最佳的結果。

有好幾種量測技術可以用來量測ESR，每一種狀況適合採用何種技術主要取決於量測的頻率。低頻的量測可使用自動平衡電橋及共振的技術；而使用空腔（cavity）的共振技術、網路分析儀的反射測試器以及專門的阻抗量測設備採用的RF-IV技術，則適合用於高頻的量測。

低頻的量測
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