账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES / 文章 /
自动光学检测方案支援多样需求
因应次世代产品推陈出新

【作者: 陳念舜】2023年08月23日 星期三

浏览人次:【3211】

即使如今机器视觉技术蓬勃发展,惟若检视其在制造业应用,仍须提升精度、弹性,以达到智慧减碳制造目标;同时支援次世代产品如半导体、电动车不断推陈出新,提供量测可追溯性解决方案。


自从10馀年前因工业4.0浪潮引领制造业开始在制程中进行监控、搜集资讯,以及终端产品全检趋势,如何藉智慧制造兼顾弹性、高速高精密,并维持产能及良率能便成关键;加上还须符合现今增效减碳趋势,相关自动化光学检测整合解决方案便应运而生。


当今年6月三丰仪器(Mitutoyo)举行在台湾成立35周年展会上,出身工研院背景的勤益科大教授彭达仁,便以「绿色智慧化制造发展趋势与应用」为主题,回顾他自2015年叁与工研院在南投中创园区的专案。当时工业4.0风潮才刚起步不久,工研院便透过最早开放通讯协议的Mitutoyo三次元量测平台,与FANUC工业机器人连网,加工不同特徵的工件;并透过扫描QR-code来取得各自所需的量测程式、数据资料之後,再搭配工研院开发的量测资料库、品管资料统计软体,设定不同尺寸的上下限记录与判别依据。
...
...

另一名雇主 限られたニュース 文章閱讀限制 出版品優惠
一般訪客 10/ごとに 30 日間 5//ごとに 30 日間 付费下载
VIP会员 无限制 20/ごとに 30 日間 付费下载
相关文章
AOI+AI+3D 检测铁三角成形
工研院眺望2020机械业好转契机 不畏美中贸易战歹戏拖棚
5G高频的PCB设计新思维
comments powered by Disqus
相关讨论
  相关新闻
» 茂纶携手数位资安共同打造科技新未来
» 英国公司推出革新技术 将甲??转化为高品质石墨烯
» 韩国研发突破性半导体封装技术 大幅提升产能并降成本
» 美国联邦通讯委员会发布新规定 加速推动C-V2X技术
» DigiKey第16届年度DigiWish隹节大放送活动即将开始


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BT0HZOQSSTACUKO
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: [email protected]