账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES / 文章 /
磷化铟镓InGaP HBTs 元件的可靠性讨论
 

【作者: 鳳上前】2001年12月05日 星期三

浏览人次:【6590】

砷化镓(GaAs) 和异质介面双极电晶体(Hetero-junction Bipolar Transistor, HBT)技术的结合,不但能在多元的应用上提供卓越的性能,并且由于元件较严谨的直流特性与射频参数的分布特性、较小的晶粒尺寸、较高的制作可重覆性,使得生产成本大大下降。这些特点同其他射频积体电路相比是非常受欢迎的。


《图一 磷化铟镓(InGaP)HBT的结构》
《图一 磷化铟镓(InGaP)HBT的结构》

砷化铝镓

传统的砷化铝镓(AlGaAs)HBT结构比较常见。早期,这种结构里的P+基极区需要使用分子束磊晶MBE(molecular beam epitaxy)设备掺杂金属元素铍(Be)。这种技术可以提供增强的性能,并且降低制作成本。
...
...

另一名雇主 限られたニュース 文章閱讀限制 出版品優惠
一般使用者 10/ごとに 30 日間 0/ごとに 30 日間 付费下载
VIP会员 无限制 25/ごとに 30 日間 付费下载

相关文章
以数位共融计画缩短数位落差
智慧无线连结:驱动现代生活与未来创新
感测器融合:增强自主移动机器人的导航能力和安全性
生成式AI为制造业员工赋能
IEK CQM估制造业2025年成长6.48%
相关讨论
  相关新闻
» 3D IC封装开启智慧医疗新局 工研院携凌通开发「无线感测囗服胶囊」
» 日本SEMICON JAPAN登场 台日专家跨国分享半导体与AI应用
» Nordic Thingy:91 X平台简化蜂巢式物联网和Wi-Fi定位应用的原型开发
» 豪威集团推出用於存在检测、人脸辨识和常开功能的超小尺寸感测器
» ST推广智慧感测器与碳化矽发展 强化於AI与能源应用价值


刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2025 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK9222916A2STACUK2
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: [email protected]