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内建式抖动量测试技术(中)
具有宽带操作与高分辨率

【作者: 李瑜、鄭乃禎、陳繼展】2008年10月07日 星期二

浏览人次:【8351】

抖动放大电路设计架构 [7] [8]


《图九 抖动放大电路之架构图与时序图》
《图九 抖动放大电路之架构图与时序图》

周期对周期抖动量即为后一个周期边缘En+1和前一个周期边缘En之相位误差,因此若要实现抖动量放大就必需将En和En+1间之边缘时间差拉大。在本文中将采用电流对负载充放电之原理来达到抖动放大之功能。我们以图九来说明其操作原理。


抖动放大电路基本上是由两组不同电流量之电荷帮浦(Charge Pump;CP)与决策电路(Decision Circuit;DC)所组成,而分别由待测讯号SUT、一个周期延迟后之讯号SUTd与两者之组合来控制。其最基本的想法为利用不同充电斜率(即充电速度)搭配讯号不同起始点(即转态边缘)之特性,来合成出具有较大抖动量的频率边缘。而为了清楚解释其放大原理,我们将SUT(S)与SUTd((Sd)依相位关系区分成四个区间,然后分别探讨在不同区间内的操作情形。如表一所示。
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