随着高容量储存设备的需求日增，硬碟厂商不断为基本的录写技术寻找创新解决方案。其中一大挑战是如何有效地覆写原有的资料，这与在不同的操作温度和读写工作周期条件下的原始软性错误率（SER）表现甚为关键。

影响覆写表现的一项重要参数是读写磁头与录写磁碟之间的间距，即泛称飞行高度。飞行高度的主要变数是一个面向录写磁碟的凸起读写元件。此元件随着?度及影响录写磁碟间距的读写工作周期而变化。对历代较高磁录密度的产品来说，控制磁头读写元件与录写媒体之间间距的问题日趋关键。

众所周知，读写磁头的机械飞行高度在磁碟的不同位置上需不同的操作?度。历代产品中拥有内建温度感应器，以监视察操作?度，同时录写电流可相应调整来补偿磁头飞行高度及碟片高压性的变动。加入温度飞行高度后，凸读写元件的变动亦可得到补偿。
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