帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES / 文章 /
自動測試向量產生技術近期發展與功能驗證應用
 

【作者: 林庭豪,黃鐘揚】   2005年07月05日 星期二

瀏覽人次:【8797】

背景介紹

Combinational ATPG是一個Branch and Bound的演算法,它的本質是在組合電路(Combinational Circuit)內找到適合的輸入向量(Input Vector)工具。所有輸入訊號的可能組合形成輸入空間(Input Space)。這個輸入空間的大小主要和組合電路內Primary Inputs的數量有關,它會形成一個二元樹(Binary Tree),每個節點(Node)有兩個分支(Branch),節點上的符號代表輸入訊號的代號,假定左邊的分支代表該Node輸入值為0,右邊的分支代表該Node輸入值為1。ATPG用DFS(Depth First Search)可以在輸入空間內找到一條路徑(Tour),當所有輸入訊號(Input)的值依照這條路徑輸入進去電路設計的時候,能夠滿足某個我們想觀察的性質(Property)。


由於輸入空間這個二元樹的節點數量太大,需要一個更有效率的資料結構才能夠在有限的記憶體空間內表示它;另外一方面人們也致力於發展如何縮小這個輸入空間以及更聰明的尋訪該輸入空間的方法。
...
...

使用者別 新聞閱讀限制 文章閱讀限制 出版品優惠
一般訪客 10則/每30天 5/則/每30天 付費下載
VIP會員 無限制 20則/每30天 付費下載
  相關新聞
» 豪威集團推出用於存在檢測、人臉辨識和常開功能的超小尺寸感測器
» ST推廣智慧感測器與碳化矽發展 強化於AI與能源應用價值
» ST:AI兩大挑戰在於耗能及部署便利性 兩者直接影響AI普及速度
» 慧榮獲ISO 26262 ASIL B Ready與ASPICE CL2認證 提供車用級安全儲存方案
» 默克完成收購Unity-SC 強化光電產品組合以滿足半導體產業需求


刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BTDHPELUSTACUKC
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: [email protected]