摘要

工程師原本都是使用向量網路分析儀（VNA），來對相位陣列天線中的發射/接收模組進行振幅與相位量測。近來製造技術的改良，使得更具彈性且功能更強的發射/接收模組得以大量生產。

然而校驗與特性分析卻形成製造瓶頸，因為完整的相位陣列天線可能包含無數個T/R模組，以及來自陣列組件的多個射頻輸出通道。以所需蒐集的資料數量來看，對測得的複雜陣列進行校驗的時間得長達好幾天或好幾個星期。為了縮短測試時間，必須採用完全不同的方法。
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